Menu
- Przyrządy pomiarowe(342)
- Wzorce i sprawdziany(68)
- Twardościomierze(113)
- Przyrządy pomiarowe i badawcze NOVOTEST(45)
- Grubościomierze nieniszczące(35)
- Warstwomierze i przyrządy do badania powłok(30)
- Profilometry i wzorce chropowatości(6)
- Połyskomierze(4)
- Kolorymetry i spektrofotometry(9)
- Przyrządy optyczne(15)
- Siłomierze(6)
- Mikroskopy(9)
- Wagi i odważniki(23)
- Suwmiarki i przyrządy suwmiarkowe(25)
- Mikrometry(15)
- Przyrządy czujnikowe(14)
- Kątowniki i kątomierze(7)
- Przymiary i liniały(1)
- Inne(1)
- Narzędzia skrawające(833)
- Wzorcowanie przyrządów(191)
- Nowości
Producenci
Warstwomierz TC 1250-0.1FN miernik grubości powłok metodą F i metodą N SAUTER
towar niedostępny
dodaj do przechowalni
5
Opis
Cyfrowy miernik grubości powłok nieferromagnetycznych na metalach TC 1250-0.1 FN
CECHY
- Do pomiaru grubości nieferromagnetycznych powłok ochronnych na podłożach (metalach) ferromagnetycznych (metoda F) oraz powłok ochronnych nieprzewodzących elektryczności na podłożach (metalach) nieferromagnetycznych (metoda N)
- Możliwość podłączenia do komputera przez RS 232C
- 2-Punktowa adiustacja (kalibracja) użytkownika
- Funkcja automatycznego wyłączania
- Gwarancja 24 miesiące
DANE TECHNICZNE
| Zakres pomiarowy |
0...1250 µm |
| Pomiar grubości ocynku |
Od 10 µm |
|
Rozdzielczość |
0.1 mm |
| Błąd max. |
3 % wartości mierzonej lub ± 2.5 µm 1 % wartości mierzonej lub ± 1 µm po adiustacji |
|
Metoda pomiarowa |
Metoda indukcji magnetycznej (F) oraz metoda prądów wirowych (N) |
|
Min. powierzchnia pomiarowa |
Φ 6 mm |
|
Min. grubość podłoża |
0.3 mm |
|
Jednostki miary |
Metryczna i imperialna (µm / mils) |
|
Pamięć wewnętrzna |
Brak |
|
Adiustacja (kalibracja) |
1- lub 2-punktowa |
|
Wyświetlacz |
Cyfrowy LCD |
|
Zasilanie |
4 baterie 1.5 V AAA |
|
Wymiary i masa netto |
131 x 65 x 28 mm / 81 g |
STANDARDOWY ZAKRES DOSTAWY
- Miernik - 1 szt.
- Zintegrowana sonda dualna - wbudowna - 1 szt.
- Stalowa płytka zerowa - 1 szt.
- Aluminiowa płytka zerowa - 1 szt.
- 4 Folie wzorcowe w zakresie między ok. 50 µm a ok. 730-740 µm
- Instrukcja obsługi - 1 szt.
- Plastikowa walizka transportowa - 1 szt.
AKCESORIA OPCJONALNE
- Wzorcowania i artykuły opcjonalne w: PRODUKTY POWIĄZANE
Koszty dostawy
Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności
Produkty powiązane
Wzorcowanie nieakredytowane warstwomierza elektromagnetycznego (F i N) + świadectwo wzorcowania
Cena netto: 270,00 zł
Wzorcowanie akredytowane warstwomierza elektromagnetycznego (F i N) + świadectwo wzorcowania CIA-ILAC MRA
Cena netto: 290,00 zł
Sonda ATE 01 typu F do wartstwomierzy SAUTER
469,61 zł
Cena regularna:
656,33 zł
Cena (EUR): (102,09 €)
Cena netto: 381,80 zł
Oprogramowanie komputerowe ATC-01, do warstwomierzy, SAUTER
407,38 zł
Cena regularna:
565,80 zł
Cena (EUR): (88,56 €)
Cena netto: 331,20 zł
Folie wzorcowe BDS (folie kalibracyjne folie wzorcowe grubości powłok)
Cena netto: 90,00 zł
Nie chcesz składać zamówienia online? Masz więcej pytań? Nie ma w sklepie tego, czego szukasz? Potrzebujesz oferty? Prosimy o kontakt:
