
Warstwomierz TF 1250-0.1FN miernik grubości powłok metodą F i metodą N !!!PREMIUM!!! SAUTER
towar niedostępny

Opis
Cyfrowy miernik grubości powłok na metalach TF 1250-0.1 FN
CECHY
- Do pomiaru grubości nieferromagnetycznych powłok ochronnych na podłożach (metalach) ferromagnetycznych (metoda F) oraz powłok ochronnych nieprzewodzących elektryczności na podłożach (metalach) nieferromagnetycznych (metoda N)
- Sonda zintegrowana
- Pomiar w trybie pojedynczym lub ciągłym
- Wyświetlacz graficzny
- Wbudowana pamięć do 99 pomiarów
- Statystki: wartość pojedynczego pomiaru, średnia wartość, wartość minimalna i maksymalna oraz ilość wartości
- Możliwość podłączenia do komputera przez RS 232C
- 2-Punktowa adiustacja (kalibracja) użytkownika
- Funkcja automatycznego wyłączania
- Gwarancja 24 miesiące
DANE TECHNICZNE
Zakres pomiarowy |
0...1250 µm |
Pomiar grubości ocynku |
Od 10 µm |
Rozdzielczość |
0.1 µm |
Błąd max. |
3 % wartości mierzonej lub ± 2.5 µm 1 % wartości mierzonej lub ± 1 µm po adiustacji |
Metoda pomiarowa |
Metoda indukcji magnetycznej (F) oraz metoda prądów wirowych (N) |
Min. powierzchnia pomiarowa |
Φ 6 mm |
Min. grubość podłoża |
0.3 mm |
Jednostki miary |
Metryczna i imperialna (µm / mils) |
Pamięć wewnętrzna |
99 pomiarów |
Adiustacja (kalibracja) |
1- lub 2-punktowa |
Wyświetlacz |
Cyfrowy LCD |
Zasilanie |
2 baterie 1.5 V AAA |
Wymiary i masa netto |
126 x 65 x 35 mm / 81 g |
STANDARDOWY ZAKRES DOSTAWY
- Miernik ze zintegrowaną sondą- 1 szt.
- Stalowa płytka zerowa - 1 szt.
- Aluminiowa płytka zerowa - 1 szt.
- 5 Folii wzorcowych w zakresie między ok. 50 µm a ok. 730-740 µm
- Instrukcja obsługi - 1 szt.
- Plastikowa walizka transportowa - 1 szt.
AKCESORIA OPCJONALNE
- Wzorcowania i artykuły opcjonalne w: PRODUKTY POWIĄZANE
Pliki do pobrania:
Koszty dostawy
Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności
Nie chcesz składać zamówienia online? Masz więcej pytań? Nie ma w sklepie tego, czego szukasz? Potrzebujesz oferty? Prosimy o kontakt: