Zestaw 12 wzorców do kontroli mikrometrów o zakresie do 25 mm GIMEX 318.202.P

Dostępność: duża ilość

Wysyłka w: 10 dni roboczych

Dostawa: Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności sprawdź formy dostawy

Cena: 1 120,28 zł 1120.28 (243,54 €)

zawiera 23.00% VAT, bez kosztów dostawy

Cena netto: 910,80 zł (198,00 €)

bez 23.00% VAT i kosztów dostawy

ilość szt.

towar niedostępny

dodaj do przechowalni

Ocena:

Producent:

Kod produktu: 318.202.P

CECHY

Zgodność: DIN EN ISO 3650
Do kontroli (sprawdzania/ wzorcowania) mikrometrów zewnętrznych (kabłąkowych) zgodnych z DIN 863, wg niemieckiej instrukcji kontroli VDI/VDE/DGQ 2618 Część 10.1 "Kontrola sprzętu pomiarowego i badawczego. Instrukcja badania mikrometrów"
Zestaw składa się z kompletu płytek wzorcowych (do kontroli odchyłek pomiarowych) i pojedynczych płaskich płytek interferencyjnych (do sprawdzania płaskości powierzchni końcówek pomiarowych). Zestawów można używać także do kontroli mikrometrów zewnętrznych z wypukłymi końcówkami pomiarowymi, ale wtedy nie używa się płytek interferencyjnych.
Materiał wykonania płytek wzorcowych: stal specjalna, hartowana
Materiał wykonania płytek interferencyjnych: szkło specjalne
Klasa dokładności płytek wzorcowych: 1 wg. DIN EN ISO 3650
Klasa dokładności płytek interferencyjnych: 1
Dostawa w drewnianej kasecie z fabrycznym certyfikatem kalibracji
Płytki wzorcowe do użytku pojedynczego w kolejności rosnącej lub malejącej; nie są przeznaczone do składnia w stosy

SPECYFIKACJA

Zestaw do kontroli mikrometrów o zakresie pomiarowym do 25 mm, nr katalogowy 318.202.P
Ilość sztuk w zestawie: 12
Wymiary nominalne [mm]: płytki wzorcowe 1,4/ 2,5 /5,1/ 7,7/ 10,3/ 12,9/ 15,0/ 17,6/ 20,2/ 22,8/ 25 - klasa dokładności 1 + płaska płytka interferencyjna ø 30 - klasa dokładności II