Zestaw 12 wzorców do kontroli mikrometrów o zakresie do 25 mm GIMEX 318.202.P
towar niedostępny
dodaj do przechowalniOpis
CECHY
- Zgodność: DIN EN ISO 3650
- Do kontroli (sprawdzania/ wzorcowania) mikrometrów zewnętrznych (kabłąkowych) zgodnych z DIN 863, wg niemieckiej instrukcji kontroli VDI/VDE/DGQ 2618 Część 10.1 "Kontrola sprzętu pomiarowego i badawczego. Instrukcja badania mikrometrów"
- Zestaw składa się z kompletu płytek wzorcowych (do kontroli odchyłek pomiarowych) i pojedynczych płaskich płytek interferencyjnych (do sprawdzania płaskości powierzchni końcówek pomiarowych). Zestawów można używać także do kontroli mikrometrów zewnętrznych z wypukłymi końcówkami pomiarowymi, ale wtedy nie używa się płytek interferencyjnych.
- Materiał wykonania płytek wzorcowych: stal specjalna, hartowana
- Materiał wykonania płytek interferencyjnych: szkło specjalne
- Klasa dokładności płytek wzorcowych: 1 wg. DIN EN ISO 3650
- Klasa dokładności płytek interferencyjnych: 1
- Dostawa w drewnianej kasecie z fabrycznym certyfikatem kalibracji
- Płytki wzorcowe do użytku pojedynczego w kolejności rosnącej lub malejącej; nie są przeznaczone do składnia w stosy
SPECYFIKACJA
- Zestaw do kontroli mikrometrów o zakresie pomiarowym do 25 mm, nr katalogowy 318.202.P
- Ilość sztuk w zestawie: 12
- Wymiary nominalne [mm]: płytki wzorcowe 1,4/ 2,5 /5,1/ 7,7/ 10,3/ 12,9/ 15,0/ 17,6/ 20,2/ 22,8/ 25 - klasa dokładności 1 + płaska płytka interferencyjna ø 30 - klasa dokładności II
Koszty dostawy Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności
Nie chcesz składać zamówienia online? Masz więcej pytań? Nie ma w sklepie tego, czego szukasz? Potrzebujesz oferty? Prosimy o kontakt: