Warstwomierz TE 1250-0.1FN miernik grubości powłok metodą F i metodą N SAUTER
towar niedostępny
dodaj do przechowalniOpis
Cyfrowy miernik grubości powłok nieferromagnetycznych na metalach TE 1250-0.1 FN
CECHY
- Do pomiaru grubości nieferromagnetycznych powłok ochronnych na podłożach (metalach) ferromagnetycznych (metoda F) oraz powłok ochronnych nieprzewodzących elektryczności na podłożach (metalach) nieferromagnetycznych (metoda N)
- Możliwość podłączenia do komputera przez RS 232C
- 2-Punktowa adiustacja (kalibracja) użytkownika
- Funkcja automatycznego wyłączania
- Gwarancja 24 miesiące
DANE TECHNICZNE
Zakres pomiarowy |
100 µm x 1250 µm |
Pomiar grubości ocynku |
Od 10 µm |
Rozdzielczość |
0 mm x 0,001 mm |
Błąd max. |
3 % wartości mierzonej lub ± 2.5 µm 1 % wartości mierzonej lub ± 1 µm po adiustacji |
Metoda pomiarowa |
Metoda indukcji magnetycznej (F) oraz metoda prądów wirowych (N) |
Min. powierzchnia pomiarowa płaska |
1,5 mm |
Min. powierzchnia pomiarowa wypukła (promień) |
Φ 1,5 mm |
Min. powierzchnia pomiarowa wklęsła (promień) |
Φ 2,5 mm |
Min. grubość podłoża |
0.3 mm (300 µm) |
Jednostki miary |
Metryczna i imperialna (µm / mils) |
Pamięć wewnętrzna |
Brak |
Adiustacja (kalibracja) |
1- lub 2-punktowa |
Wyświetlacz |
Cyfrowy LCD |
Zasilanie |
4 baterie 1.5 V AAA |
Wymiary i masa netto |
265 mm x 215 mm x 63 mm/ 81 g |
STANDARDOWY ZAKRES DOSTAWY
- Miernik - 1 szt.
- Sodna typu F na kablu oraz sonda typu N na kablu - łącznie 2 szt.
- Stalowa płytka zerowa - 1 szt.
- Aluminiowa płytka zerowa - 1 szt.
- 5 Foli wzorcowych w zakresie między ok. 50 µm a ok. 730-740 µm
- Instrukcja obsługi - 1 szt.
- Plastikowa walizka transportowa - 1 szt.
AKCESORIA OPCJONALNE
- Wzorcowania i artykuły opcjonalne w: PRODUKTY POWIĄZANE
Pliki do pobrania:
Koszty dostawy Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności
Nie chcesz składać zamówienia online? Masz więcej pytań? Nie ma w sklepie tego, czego szukasz? Potrzebujesz oferty? Prosimy o kontakt: