Menu
- Przyrządy pomiarowe(338)
- Wzorce i sprawdziany(67)
- Twardościomierze(113)
- Przyrządy pomiarowe i badawcze NOVOTEST(46)
- Grubościomierze nieniszczące(35)
- Warstwomierze i przyrządy do badania powłok(31)
- Profilometry i wzorce chropowatości(6)
- Połyskomierze(4)
- Kolorymetry i spektrofotometry(9)
- Przyrządy optyczne(15)
- Siłomierze(6)
- Mikroskopy świetlne binokulary i trinokulary(9)
- Wagi i odważniki(19)
- Suwmiarki noniuszowa i przyrządy suwmiarkowe(25)
- Mikrometry wewnętrzne, zewnętrzne(15)
- Przyrządy czujnikowe(14)
- Kątowniki i kątomierze(7)
- Przymiary i liniały(1)
- Inne(1)
- Narzędzia skrawające(831)
- Wzorcowanie przyrządów(200)
- Nowości
Producenci
Warstwomierz TG 1250-0.1FN miernik grubości powłok metodą F i metodą N SAUTER KLASA PREMIUM
towar niedostępny
dodaj do przechowalni
5
Opis
Cyfrowy miernik grubości powłok ochronnych na podłożach (metalach) ferromagnetycznych (metoda F) oraz elektroizolacyjnych powłok ochronnych na podłożach (metalach) nieferromagnetycznych (metoda N) TG 1250-0.1 FN
CECHY
- Do pomiaru grubości nieferromagnetycznych powłok ochronnych na podłożach (metalach) ferromagnetycznych (metoda F) oraz elektroizolacyjnych powłok ochronnych na podłożach (metalach) nieferromagnetycznych (metoda N)
- Wysoka funkcjonalność i jakość wykonania, klasa premium
- Odłączalna sonda na kablu
- Przełączalne tryby: indukcja magnetyczna (F) i prądy wirowe (N)
- Duży czytelny, podświetlany, kontrastowy, 3-poziomowy wyświetlacz cyfrowy, wyświetlający informacje: 1) stan sprzężenia sondy z podłożem, 2) wskazanie bieżące, 3) wartość średnia z x pomiarów, 3) wartość max., 4) wartość min. i 5) liczba pomiarów na liczbę jednostek pamięci
- Tryb Offset-Accur do dokładnej adiustacji
- Tryb Scan do pomiaru ciągłego
- Pamięć wewnętrzna do 99 wartości mierzonych
- Wyjście danych RS 232
- 4 folie wzorcowe w zestawie
- Funkcja automatycznego wyłączania
- Gwarancja 24 miesiące
DANE TECHNICZNE
| Zakres pomiarowy |
0-1250 µm |
| Pomiar grubości ocynku |
od 10 µm |
| Rozdzielczość |
0.1 µm |
| Błąd max. |
± 3 % wart. mierz. lub ± 2.5 µm
± 1 % wart. mierz. (po adiustacji Offset-Accur) lub ± 1 µm |
| Min. powierzchnia pomiarowa |
ø 6 mm |
| Min. grubość podłoża |
0.3 mm |
| Jednostki miary |
Metryczna i imperialna (µm/ mils) |
| Zasilanie |
2 baterie 1.5 V AAA |
| Wymiary i masa netto |
126 x 65 x 35 mm / 81 g |
STANDARDOWY ZAKRES DOSTAWY
- Miernik
- Sodna typu F na kablu oraz sonda typu N na kablu - łącznie 2 szt.
- Stalowa płytka zerowa - 1 szt.
- Aluminiowa płytka zerowa - 1 szt.
- 5 Folii wzorcowych w zakresie między ok. 50 µm a ok. 730-740 µm
- Instrukcja obsługi
- Plastikowa walizka transportowa
AKCESORIA OPCJONALNE
- Wzorcowania i artykuły opcjonalne w: PRODUKTY POWIĄZANE
Pliki do pobrania:
Koszty dostawy
Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności
Produkty powiązane
Wzorcowanie nieakredytowane warstwomierza elektromagnetycznego (F i N) + świadectwo wzorcowania
Cena netto: 270,00 zł
Wzorcowanie akredytowane warstwomierza elektromagnetycznego (F i N) + świadectwo wzorcowania CIA-ILAC MRA
Cena netto: 290,00 zł
Wzorcowanie akredytowane warstwomierza elektromagnetycznego (F lub N) + świadectwo wzorcowania CIA-ILAC MRA
Cena netto: 210,00 zł
Sonda ATE 01 typu F do wartstwomierzy SAUTER
Cena netto: 522,00 zł
Oprogramowanie komputerowe ATC-01, do warstwomierzy, SAUTER
395,78 zł
Cena regularna:
553,50 zł
Cena (EUR): (87,95 €)
Cena netto: 321,77 zł
Folie wzorcowe BDS (folie kalibracyjne folie wzorcowe grubości powłok)
Cena netto: 90,00 zł
Wzorcowanie akredytowane dodatkowej sondy do warstwomierza elektromagnetycznego + świadectwo wzorcowania CIA-ILAC MRA
Cena netto: 80,00 zł
Sonda ATE 02 typu N do wartstwomierzy SAUTER
533,03 zł
Cena regularna:
691,88 zł
Cena (EUR): (118,45 €)
Cena netto: 433,36 zł
Nie chcesz składać zamówienia online? Masz więcej pytań? Nie ma w sklepie tego, czego szukasz? Potrzebujesz oferty? Prosimy o kontakt:
